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微觀形貌分析-掃描電鏡(SEM)

掃描電鏡

商品詳情

儀器型號:美國熱電Q45

項目介紹:掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。

樣品的要求

1. 粉末樣品:樣品量≥3mg(磁性樣品必須由承檢方制樣)。

2. 液體樣品:樣品量≥0.5ml。

3. 塊體樣品:長*寬*高≤50mm*50mm*15mm. 

4. 細胞及細菌樣品:2.5%的戊二醛保存,樣品離心后能覆蓋1.5ml離心管底部。

5. 生物組織樣品:2.5%的戊二醛保存,取材大小1-2mm3(大于這個尺寸戊二醛固定效果會不好)。



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